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Rate Tester - メーカー・企業4社の業務用製品ランキング | イプロスものづくり

Rate Testerの製品一覧

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BA-4000 Bit Analyzer

BA-4000 Bit Analyzer

Four types are lined up! Baud rate, number of channels, and modulation methods are upgradeable.

We would like to introduce the 'BA-4000 Bit Analyzer' that we handle. The baud rate ranges from 28G to 56G, with options for 4 channels or 8 channels, both of which can be upgraded. The modulation methods available are NRZ/PAM, with NRZ being upgradeable to PAM4. As an option, we also offer FEC simulators and FEC generators. 【Product Lineup】 ■ 4×28GBd BERT ■ 8×28GBd BERT ■ 4×56GBd PAM4 BERT ■ 8×56GBd PAM4 BERT *You can download the English version of the catalog. For more details, please refer to the PDF materials or feel free to contact us.

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Bit Error Rate Tester "BA-4000"

Bit Error Rate Tester "BA-4000"

Full support for testing transmission standards of 800G/400G/200G/100G!

The "BA-4000" is an electrical BER tester that supports NRZ and PAM4 coding, equipped with advanced FEC tools, and has testing capabilities up to 800G. It is well-suited for testing and evaluating devices that use high-speed transmission standards such as PAM4 modulation methods for 800GbE/400GbE (optical transceivers, OSA, FPGA, etc.). The user interface displays the test results for each channel simply and in real-time. 【Features】 ■ Full support for testing transmission standards of 800G/400G/200G/100G (up to 56GBd, NRZ/PAM4, up to 8 channels) ■ Essential FEC simulation function for burst error analysis ■ High-quality eye pattern of generated signals ■ Easy-to-remove O-SMPM connector for RF interface ■ Supports PRBS 7/9/11/13/15/23/31/13Q/31Q, SSPRQ *For more details, please refer to the PDF document or feel free to contact us.

  • ビットエラーレートテスター『BA-4000』2.png
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Bit Error Rate Tester (BERT) "BA-4000"

Bit Error Rate Tester (BERT) "BA-4000"

High-quality eye pattern of the generated signal! Features an easily detachable O-SMPM connector for RF interface.

The "BA-4000" is a bit error rate tester suitable for testing and evaluating high-speed transmission standards using PAM4 modulation methods such as 800GbE/400GbE, including devices like optical transceivers, OSAs, and FPGAs. In high-speed transmission standards applying PAM4 modulation like 400GbE/800GbE, it is stipulated that FEC (Forward Error Correction) must be used to ensure transmission quality, and evaluations of transmission quality also require assessments that include error correction by FEC. The FEC simulation function of this product provides various analysis capabilities for burst errors. 【Features】 ■ Full support for testing transmission standards of 800G/400G/200G/100G (up to 56GBd, NRZ/PAM4, up to 8 channels) ■ Essential FEC simulation function for burst error analysis ■ High-quality eye patterns of generated signals ■ Easy-to-remove O-SMPM connector for RF interface ■ Supports PRBS 7/9/11/13/15/23/31/13Q/31Q, SSPRQ *For more details, please download the PDF or feel free to contact us.

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PBT3058 1.6T Bit Error Rate Tester

PBT3058 1.6T Bit Error Rate Tester

From 1.6T optical modules to CPO and SiPh, everything for BERT evaluation in one device.

The Semight PBT3058 is a high-performance bit error rate tester designed for error testing of high-speed serial signals. It is used for physical layer characterization and compliance testing, supporting both PAM4 and NRZ signals. It can handle symbol rates of up to 106.25 GBaud, providing an optimal solution for evaluating next-generation high-speed communication standards.

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1.6T Bit Error Rate Tester 'B3224'

1.6T Bit Error Rate Tester 'B3224'

Supports PAM4/NRZ signals and covers the 1.6TBASE/CEI-224G standard!

The B3224 is a high-performance Bit Error Rate Tester (BERT) for physical layer characteristic evaluation and consistency testing. With excellent signal quality, a wealth of features, and flexible testing modes (integrated MCB or remote head), it provides powerful performance and flexibility from research and development to manufacturing testing of high-speed serial circuit products. It supports data rates from 24.33 to 120 Gbaud. The test patterns include various PRBS, SSPRQ, JP03A/B, Square Wave, and custom-defined patterns. 【Key Specifications (Partial)】 ■ Output Signal: Differential PAM4/NRZ (AC Coupled) ■ Output Amplitude: 800 mVp-p (Differential) ■ Rise/Fall Time: < 4.5 ps ■ Input Signal: Differential PAM4/NRZ (AC Coupled) ■ Clock Mode: Built-in Clock Recovery *For more details, please download the PDF or feel free to contact us.

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